鍍層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介

        涂層測(cè)厚已成為加工業(yè)和表面工程質(zhì)量檢驗(yàn)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)良質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)出口商品及涉外項(xiàng)目對(duì)涂層厚度有明確要求。
??涂層厚度的測(cè)量方法主要有：楔形切割法、截光法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱重法、X射線熒光法、β射線背散射法、電容法、磁測(cè)量法和渦流測(cè)量法方法等。這些方法中的前五種是破壞性測(cè)試。測(cè)量方法繁瑣、速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
?? X射線和β射線方法是非接觸、無(wú)損測(cè)量，測(cè)量范圍小。 X 射線方法可以測(cè)量極薄的涂層、雙層涂層和合金涂層。 β射線法適用于原子序數(shù)大于3的涂層和基材的測(cè)量。電容法僅用于測(cè)量細(xì)導(dǎo)體絕緣涂層的厚度。
??隨著科技的不斷進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，X射線涂層測(cè)厚儀的使用已經(jīng)朝著微型化、智能化、多功能化、高精度、實(shí)用化的方向邁進(jìn)了一步。 .測(cè)量分辨率達(dá)到0.1微米，精度可達(dá)1%，大大提高。它具有適用范圍廣、量程廣、操作方便、價(jià)格低廉等特點(diǎn)，是工業(yè)和科研中廣泛使用的測(cè)厚儀器。
??工作原則：
??鍍層測(cè)厚儀是通過(guò)樣品反射的第二次X射線的強(qiáng)度，將X射線照射在樣品上。測(cè)量金屬薄膜如涂層的厚度。由于不與樣品接觸，照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
??測(cè)量原理：
??一。磁吸測(cè)量原理及測(cè)厚儀
??永磁體（探頭）與導(dǎo)磁鋼之間的吸引力與兩者之間的距離成正比。這個(gè)距離就是涂層的厚度。這個(gè)原理使得測(cè)厚儀，只要涂層和基體的磁導(dǎo)率差異足夠大，就可以測(cè)量。鑒于大多數(shù)工業(yè)產(chǎn)品是由結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，磁測(cè)厚儀被廣泛使用。測(cè)厚儀的基本結(jié)構(gòu)由磁鋼、繼電器彈簧、尺子和自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼吸附到被測(cè)物體上后，測(cè)量彈簧逐漸拉長(zhǎng)，拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸力時(shí)，通過(guò)記錄磁體分離瞬間的拉力就可以得到涂層的厚度。新產(chǎn)品可以自動(dòng)完成這個(gè)記錄過(guò)程。不同的型號(hào)有不同的范圍和適用的場(chǎng)合。
??二。磁感應(yīng)測(cè)量原理
??當(dāng)使用磁感應(yīng)原理時(shí)，涂層的厚度是通過(guò)從探頭通過(guò)非鐵磁性涂層流入鐵磁性基體的磁通量的大小來(lái)測(cè)量的。還可以通過(guò)測(cè)量相應(yīng)磁阻的大小來(lái)指示涂層的厚度。涂層越厚，磁阻越大，磁通量越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以測(cè)量磁性基體上非磁性涂層的厚度。一般要求基材的磁導(dǎo)率在500以上。如果鍍層材料也是磁性的，則要求磁導(dǎo)率與基材的差異足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上帶有線圈的探頭放在被測(cè)樣品上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品使用指針式儀表來(lái)測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小。儀器將信號(hào)放大，然后指示涂層的厚度。近年來(lái)，電路設(shè)計(jì)引入了穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)刃录夹g(shù)，利用磁阻對(duì)測(cè)量信號(hào)進(jìn)行調(diào)制。它還采用了設(shè)計(jì)的集成電路并引入了微機(jī)，大大提高了測(cè)量精度和重現(xiàn)性（幾乎達(dá)到一個(gè)數(shù)量級(jí)）。現(xiàn)代磁感應(yīng)測(cè)厚儀的分辨率為0.1um，允許誤差為1%，測(cè)量范圍為10mm。
??磁原理測(cè)厚儀可用于測(cè)量鋼鐵、瓷器、搪瓷保護(hù)層、塑料、橡膠涂層、鎳、鉻等各種有色金屬電鍍層，以及各種化學(xué)、石油工業(yè)。涂層。
??三。渦流測(cè)量原理
??高頻交流信號(hào)在探頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)。當(dāng)探頭靠近導(dǎo)體時(shí)，在其中形成渦流。探頭離導(dǎo)電襯底越近，渦流越大，反射阻抗越大。這種反饋?zhàn)饔么砹颂筋^與導(dǎo)電基體之間的距離，即導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電涂層的厚度。由于這類探頭專門測(cè)量非鐵磁性金屬基體上的涂層厚度，所以通常稱為非磁性探頭。非磁性探頭采用高頻材料作為線圈芯，如鉑鎳合金或其他新材料。與磁感應(yīng)原理相比，主要區(qū)別在于探頭不同，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小和尺度不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀分辨率為0.1um，允許誤差為1%，量程為10mm。
??測(cè)厚儀采用渦流原理，原則上可以測(cè)量所有導(dǎo)體上的非導(dǎo)電涂層，如航天飛機(jī)、車輛、家電、鋁合金門窗等鋁制品表面油漆，塑料涂層和陽(yáng)極氧化膜。包層材料具有一定的導(dǎo)電性。樣品也可測(cè)，但要求兩者電導(dǎo)率之比至少相差3-5倍（如銅鍍鉻）。雖然鋼基體也是一種電導(dǎo)體，但對(duì)于此類任務(wù)，使用磁測(cè)量原理更為合適。